扫描电镜联用AFM
你有没有想过用扫描电子显微镜,快速获取3d 信息?Kleindiek 和 Nanosurf 为你提供了即插即用的改进解决方案。原子力显微镜(AFM和扫描电子显微镜(SEM)的结合开启了令人兴奋的新可能性。扫描电镜在微米和纳米范围内被广泛用于分析,AFM 技术对于研究不同材料的表面和特性以及纳米细节非常有用。 Kleindiek 纳米技术公司开发了一种超薄、紧凑和灵活的扫描仪,使得 AFM 可以在扫描电镜下进行。结合 Nanosurf 的 SPM 控制器和易于使用的控制软件,从扫描电镜检查的横向尺寸和材料的信息可以很容易地补充精确的地形和力的信息就地。这两组数据的独特和轻松可用性为现有工具带来了新的增值功能,并减少了实验周期时间,从而提高了研究吞吐量。
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